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使用安捷伦FPGA动态探头存器子系调试储统
作者:IC人才网 时间:2015-8-22 阅读:8509次

摘要
   使用安捷伦探动态头FPGA存器子系调试储统FPGAs已经成为世界各地成千上万个设计团队硬件设计的核心。FPGAs提供的密度不断提高,同时提供了广泛的其它功能,如可变IO标准、存储器、处理器和高速串行功能。其高级功能和集成度使FPGAs成为实现复杂的系统或子系统极具吸引力的解决方案。关键硬件和软件交互发生在FPGA内部。随着查看FPGA内部信号的需求不断提高,提供这种查看能力可以使用的针脚数量仍然有限。由于为内部查看能力提供的针脚数量非常少,因此调试很容易发生问题。如果没有引导性测量,直觉通常会导致混乱及项目发布推迟。核心辅助调试为实现迅速检验所需的查看能力提供了一种极具吸引力的方法。
   安捷伦对数百支设计团队进行的市场研究与自己的下一代测试相结合,在这一领域实现了重大创新。调试FPGA的工程团队面临的核心问题,是在固定数量的针脚上提高查看能力。安捷伦的两代核心辅助调试技术可以追溯到2002年,其一直在测试测量设备中倡导芯片上测量。2004年,安捷伦为逻辑分析仪和混合信号示波器发布了业内第一个FPGA动态探头。2005年,安捷伦和Xilinx增加了自动设置功能。2006年,安捷伦新增对Xilinx新的Virtex 5系列的支持。本文比较了各种核心辅助调试方法,提供了工程团队采用安捷伦FPGA动态探头调试存储器子系统的实例。

 

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